Rietveld refinement is a technique described by Hugo Rietveld for use in the characterisation of crystalline materials. The neutron and X-ray diffraction of powder samples results in a pattern characterised by reflections (peaks in intensity) at certain positions. The height, width and position of these reflections can be used to determine many aspects of the material's structure.
| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| rdfs:label
| - Rietveld-Methode (de)
- Méthode de Rietveld (fr)
- リートベルト法 (ja)
- Metoda Rietvelda (pl)
- Rietveld refinement (en)
- Метод Ритвельда (ru)
- Метод Рітвельда (uk)
|
| rdfs:comment
| - Die Rietveld-Methode ist ein Rechenverfahren, das 1966 vom niederländischen Physiker Hugo Rietveld (1932–2016) zur Kristallstrukturanalyse polykristalliner Proben entwickelt wurde, ursprünglich mittels Neutronenstrahlung analog zum Debye-Scherrer-Verfahren. Seit 1977 wird sie auch für Untersuchungen mit Röntgenstrahlung verwendet. Seit Mitte der 1970er Jahre wird die Rietveld-Methode auch zur quantitativen Phasenanalyse eingesetzt, also zur quantitativen Bestimmung der kristallinen Komponenten über das gesamte Beugungsdiagramm einer pulverförmigen Probe. (de)
- La méthode de Rietveld est une méthode d'analyse en diffractométrie de rayons X et de neutrons sur poudre. Elle fut développée en 1969 par le cristallographe néerlandais Hugo Rietveld. Cette méthode consiste à simuler un diffractogramme à partir d'un modèle cristallographique de l'échantillon, puis d'ajuster les paramètres de ce modèle afin que le diffractogramme simulé soit le plus proche possible du diffractogramme mesuré. Selon les propriétés auxquelles on s'intéresse et le nombre de paramètres à affiner, le logiciel peut être plus ou moins complexe. (fr)
- リートベルト法（リートベルトほう）またはリートベルト解析（リートベルトかいせき）は、オランダの結晶学者 (Hugo Rietveld) により考案された結晶構造の解析方法の1つである。粉末X線回折実験や粉末中性子回折実験により得られる回折パターンを結晶構造やピーク形状などに関するパラメーターから計算される回折パターンで最小二乗法を用いてフィッティングすることにより、結晶構造やピーク形状などに関するパラメーターを精密化する。 (ja)
- Rietveld refinement is a technique described by Hugo Rietveld for use in the characterisation of crystalline materials. The neutron and X-ray diffraction of powder samples results in a pattern characterised by reflections (peaks in intensity) at certain positions. The height, width and position of these reflections can be used to determine many aspects of the material's structure. (en)
- Metoda Rietvelda – technika wprowadzona przez w celu opisu materiałów krystalicznych. neutronów i promieniowania rentgenowskiego na polikrystalicznych próbkach proszkowych daje w wyniku charakterystyczną strukturę maksimów o określonym natężeniu i położeniu . Wysokość, szerokość i położenie tych linii dyfrakcyjnych mogą zostać wykorzystane do wyznaczenia wielu aspektów struktury wewnętrznej materiału (dyfraktometria). (pl)
- Метод Ритвельда — методика обсчёта экспериментальных данных, разработанная и опубликованная в 1969 году Хьюго Ритвельдом (Hugo M. Rietveld) для характеристики кристаллических материалов методом порошковой рентгеновской дифракции. Дифракция нейтронов или рентгеновских лучей из порошка образцов фиксируется на дифрактограммах — графиках, характеризующихся отражениями (пиками интенсивностей), расположенными на определенных местах дифракции Брэгга, которые фиксируются прибором (дифрактометром). Высота, ширина и положение этих пиков могут быть использованы для определения многих аспектов структуры материалов. (ru)
- Метод Рітвельда — методика обрахунку експериментальних даних розроблена та опублікована у 1969 році Гуґо Рітвельдом (Hugo M. Rietveld) для характеристики кристалічних матеріалів методом порошкової дифракції. Дифракція нейтронів чи рентгенівських променів з порошку зразків фіксується на дифрактограмах — графіках що характеризуються відбиттями (піками інтенсивностей) розташованими на певних місцях брегівських кутів, які фіксуються приладом (дифрактометром). Висота, ширина і положення цих піків можуть бути використані для визначення багатьох аспектів структури матеріалів. (uk)
|
| dcterms:subject
| |
| Wikipage page ID
| |
| Wikipage revision ID
| |
| Link from a Wikipage to another Wikipage
| |
| sameAs
| |
| dbp:wikiPageUsesTemplate
| |
| has abstract
| - Die Rietveld-Methode ist ein Rechenverfahren, das 1966 vom niederländischen Physiker Hugo Rietveld (1932–2016) zur Kristallstrukturanalyse polykristalliner Proben entwickelt wurde, ursprünglich mittels Neutronenstrahlung analog zum Debye-Scherrer-Verfahren. Seit 1977 wird sie auch für Untersuchungen mit Röntgenstrahlung verwendet. Seit Mitte der 1970er Jahre wird die Rietveld-Methode auch zur quantitativen Phasenanalyse eingesetzt, also zur quantitativen Bestimmung der kristallinen Komponenten über das gesamte Beugungsdiagramm einer pulverförmigen Probe. (de)
- Rietveld refinement is a technique described by Hugo Rietveld for use in the characterisation of crystalline materials. The neutron and X-ray diffraction of powder samples results in a pattern characterised by reflections (peaks in intensity) at certain positions. The height, width and position of these reflections can be used to determine many aspects of the material's structure. The Rietveld method uses a least squares approach to refine a theoretical line profile until itmatches the measured profile. The introduction of this technique was a significant step forward in thediffraction analysis of powder samples as, unlike other techniques at that time, it was able to deal reliably with strongly overlapping reflections. The method was first implemented in 1967, and reported in 1969 for the diffraction of monochromatic neutrons where the reflection-position is reported in terms of the Bragg angle, 2θ. This terminology will be used here although the technique isequally applicable to alternative scales such as x-ray energy or neutron time-of-flight. The only wavelength and technique independent scale is in reciprocal space units or momentum transfer Q, which is historically rarely used in powder diffraction but very common in all other diffraction and optics techniques. The relation is (en)
- La méthode de Rietveld est une méthode d'analyse en diffractométrie de rayons X et de neutrons sur poudre. Elle fut développée en 1969 par le cristallographe néerlandais Hugo Rietveld. Cette méthode consiste à simuler un diffractogramme à partir d'un modèle cristallographique de l'échantillon, puis d'ajuster les paramètres de ce modèle afin que le diffractogramme simulé soit le plus proche possible du diffractogramme mesuré. Selon les propriétés auxquelles on s'intéresse et le nombre de paramètres à affiner, le logiciel peut être plus ou moins complexe. (fr)
- リートベルト法（リートベルトほう）またはリートベルト解析（リートベルトかいせき）は、オランダの結晶学者 (Hugo Rietveld) により考案された結晶構造の解析方法の1つである。粉末X線回折実験や粉末中性子回折実験により得られる回折パターンを結晶構造やピーク形状などに関するパラメーターから計算される回折パターンで最小二乗法を用いてフィッティングすることにより、結晶構造やピーク形状などに関するパラメーターを精密化する。 (ja)
- Metoda Rietvelda – technika wprowadzona przez w celu opisu materiałów krystalicznych. neutronów i promieniowania rentgenowskiego na polikrystalicznych próbkach proszkowych daje w wyniku charakterystyczną strukturę maksimów o określonym natężeniu i położeniu . Wysokość, szerokość i położenie tych linii dyfrakcyjnych mogą zostać wykorzystane do wyznaczenia wielu aspektów struktury wewnętrznej materiału (dyfraktometria). Metoda Rietvelda bazuje na metodzie najmniejszych kwadratów w celu dopasowania profilu teoretycznego do zarejestrowanego dyfraktogramu. Wprowadzenie takiego podejścia w krystalografii proszkowej było znaczącym krokiem naprzód, bowiem wcześniejsze podejścia nie radziły sobie z pokrywającymi się refleksami. (pl)
- Метод Рітвельда — методика обрахунку експериментальних даних розроблена та опублікована у 1969 році Гуґо Рітвельдом (Hugo M. Rietveld) для характеристики кристалічних матеріалів методом порошкової дифракції. Дифракція нейтронів чи рентгенівських променів з порошку зразків фіксується на дифрактограмах — графіках що характеризуються відбиттями (піками інтенсивностей) розташованими на певних місцях брегівських кутів, які фіксуються приладом (дифрактометром). Висота, ширина і положення цих піків можуть бути використані для визначення багатьох аспектів структури матеріалів. Метод Рітвельда використовує метод найменших квадратів для уточнення і наближення теоретичної лінії всього профілю дифрактограми до її екпериментально поміряного профілю. Введення у вжиток цього методу було значним кроком вперед у методі дифракції порошку. На відміну від інших методів, він дозволяє аналізувати кристалічні структури порошків, та отримувати надійні результати навіть з дифрактограм в яких перекриваються відбиття від декількох окремих кристалічних фаз. Метод був вперше апробований на дифракції монохроматичного нейтронного випромінювання, де відбиття зафіксовані у 2θ кута Брегга. Ця методика може використовуватися однаковою мірою і до альтернативних масштабів, таких як енергія відбитих рентгенівських променів чи нейтронів, час прольоту та ін. (uk)
- Метод Ритвельда — методика обсчёта экспериментальных данных, разработанная и опубликованная в 1969 году Хьюго Ритвельдом (Hugo M. Rietveld) для характеристики кристаллических материалов методом порошковой рентгеновской дифракции. Дифракция нейтронов или рентгеновских лучей из порошка образцов фиксируется на дифрактограммах — графиках, характеризующихся отражениями (пиками интенсивностей), расположенными на определенных местах дифракции Брэгга, которые фиксируются прибором (дифрактометром). Высота, ширина и положение этих пиков могут быть использованы для определения многих аспектов структуры материалов. Метод Ритвельда использует метод наименьших квадратов для уточнения и приближения теоретической линии всего профиля дифрактограммы к её экспериментальному профилю. Введение в обиход этого метода было значительным шагом вперёд в методе порошковой дифракции. В отличие от других методов, он позволяет анализировать кристаллические структуры порошков, и получать надежные результаты даже с дифрактограмм, в которых перекрываются отражения от нескольких отдельных кристаллических фаз. Метод был впервые апробирован на дифракции монохроматического нейтронного излучения, где отражения зафиксированы в 2θ углах Брэгга. Эта методика может использоваться в равной степени и к альтернативным масштабам, таких как энергия отражённых рентгеновских лучей или нейтронов, время пролёта и др. (ru)
|
| prov:wasDerivedFrom
| |
| page length (characters) of wiki page
| |
| foaf:isPrimaryTopicOf
| |
| is Link from a Wikipage to another Wikipage
of | |
| is Wikipage redirect
of | |
| is Wikipage disambiguates
of | |
| is foaf:primaryTopic
of | |
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)