About: Black's equation     Goto   Sponge   NotDistinct   Permalink

An Entity of Type : yago:WikicatEquations, within Data Space : dbpedia.demo.openlinksw.com associated with source document(s)
QRcode icon
http://dbpedia.demo.openlinksw.com/describe/?url=http%3A%2F%2Fdbpedia.org%2Fresource%2FBlack%27s_equation&invfp=IFP_OFF&sas=SAME_AS_OFF

Black's Equation is a mathematical model for the mean time to failure (MTTF) of a semiconductor circuit due to electromigration: a phenomenon of molecular rearrangement (movement) in the solid phase caused by an electromagnetic field. The equation is: is a constant is the current density is a model parameter is the activation energy is Boltzmann's constant is the absolute temperature in K

AttributesValues
rdf:type
rdfs:label
  • Equació de Black (ca)
  • Blacksche Gleichung (de)
  • Ecuación de Black (es)
  • Black's equation (en)
  • Équation de Black (fr)
  • 블랙의 방정식 (ko)
rdfs:comment
  • Die blacksche Gleichung gibt die mittlere Ausfallzeit (MTTF: englisch mean time to failure) einer Leiterbahn aufgrund von Schädigungen durch Elektromigration in Abhängigkeit von der Temperatur und der elektrischen Stromdichte an. Mit ihr lassen sich Lebensdauern von Leiterbahnen in integrierten Schaltungen (ICs), die unter Einfluss von erhöhter Temperatur und erhöhter Stromdichte getestet worden sind, auf Lebensdauern unter realen Bedingungen extrapolieren. Die Gleichung wurde in den 1960er Jahren von aufgestellt und wird mit einigen erfolgten Anpassungen bis heute verwendet. (de)
  • La ecuación de Black es un modelo matemático que estima el tiempo medio de operación entre fallos de un circuito semiconductor debido a la electromigración, un fenómeno de agitación molecular del estado sólido en presencia de un campo electromagnético. (es)
  • 블랙의 방정식(Black's equation)은 전기전진에 의해 반도체가 평균적으로 고장에 이르게 하는 시간(the mean time to failure,MTTF)을 구하는 수학적인 방법이다. 방정식은 다음과 같이 표현된다. 평균고장시간 MTTF는 는 상수는 전류밀도 은 방정식의 매개변수는 활성화 에너지 (전자볼트 단위)는 볼츠만 상수는 절대온도 (켈빈 단위) 이 방정식 모델은 특정한 물리학적인 모델을 바탕으로 하지 않은 실험적으로 추론한 값이다. 하지만 이 방정식은 절대온도, 전기스트레스, 특정한 기술과 물질에 대해 평균고장시간(MTTF)를 잘 예측한다. 방정식의 A,n,Q값은 실험값을 통해 결정할 수 있다. (ko)
  • L'equació de Black és un model matemàtic que estima el temps mitjà d'operació entre fallades (en anglès, model for the mean time to failure; MTTF) d'un circuit semiconductor a causa de la electromigració, un fenomen d'agitació molecular de l'estat sòlid en presència d'un camp electromagnètic. L'equació dona el temps mitjà abans de la fallada d'un circuit conductor a causa d'un dany causat per l'electromigració, segons la temperatura i la densitat del corrent elèctric. sent: (ca)
  • Black's Equation is a mathematical model for the mean time to failure (MTTF) of a semiconductor circuit due to electromigration: a phenomenon of molecular rearrangement (movement) in the solid phase caused by an electromagnetic field. The equation is: is a constant is the current density is a model parameter is the activation energy is Boltzmann's constant is the absolute temperature in K (en)
  • L'Équation de Black est un modèle mathématique estimant le temps moyen jusqu'à la défaillance (MTTF : mean time to failure en anglais) d'un circuit microélectronique provoquée par le phénomène d'électromigration.L'équation tient son nom de l’américain J. R. Black.Dans un papier de 1967, Black expose les résultats de ses observations sur la défaillance des pistes des circuits microélectroniques. Ces résultats prennent la forme d'une équation empirique qui permet d'estimer la MTTF d'une piste : (fr)
dcterms:subject
Wikipage page ID
Wikipage revision ID
Link from a Wikipage to another Wikipage
sameAs
dbp:wikiPageUsesTemplate
has abstract
  • L'equació de Black és un model matemàtic que estima el temps mitjà d'operació entre fallades (en anglès, model for the mean time to failure; MTTF) d'un circuit semiconductor a causa de la electromigració, un fenomen d'agitació molecular de l'estat sòlid en presència d'un camp electromagnètic. L'equació dona el temps mitjà abans de la fallada d'un circuit conductor a causa d'un dany causat per l'electromigració, segons la temperatura i la densitat del corrent elèctric. Es pot utilitzar per extrapolar la vida útil dels circuits conductors en circuits integrats, que han estat provats sota la influència de l'augment de la temperatura i l'augment de la densitat de corrent. L'equació rep el nom de l'americà J. R. Black. En un treball de 1967, Black presenta els resultats de les seves observacions sobre les fallades de les pistes de circuits microelectrònics. Aquests resultats prenen la forma d'una equació empírica que permet estimar la MTTF d'una pista: sent: * , temps mitjà d'operació entre fallades (en anglès, model for the mean time to failure ; model del temps mitjà al fracàs) * , una constant, * , la densitat de corrent, * , un paràmetre del model, * , l'energia d'activació (en eV), * , la constant de Boltzmann, * , la temperatura en K, * , l'amplada del fil metàl·lic. L'exponent n depèn de la densitat de corrent emprada, la temperatura (principalment el gradient de temperatura ), la geometria de la pista del conductor i del material de la pista del conductor. A la literatura es troben valors entre 1 i 7; en la forma original de l'equació publicada per Black, n = 2. El model és abstracte, no està basat en un model físic específic, però descriu de manera flexible la dependència de la taxa de fallada amb la temperatura, la tensió elèctrica a la qual se sotmet al material, i la tecnologia concreta. Sent un model més descriptiu que predictiu, els valors d' , i s'obtenen mitjançant ajust de les dades experimentals. La utilitat del model resideix en la seva capacitat de relacionar dades preses sota condicions extremes de temperatura i tensió en breus períodes amb les taxes de fallada esperables sota condicions habituals de funcionament. Les dades s'obtenen sotmetent al material a proves a alta temperatura. (ca)
  • Die blacksche Gleichung gibt die mittlere Ausfallzeit (MTTF: englisch mean time to failure) einer Leiterbahn aufgrund von Schädigungen durch Elektromigration in Abhängigkeit von der Temperatur und der elektrischen Stromdichte an. Mit ihr lassen sich Lebensdauern von Leiterbahnen in integrierten Schaltungen (ICs), die unter Einfluss von erhöhter Temperatur und erhöhter Stromdichte getestet worden sind, auf Lebensdauern unter realen Bedingungen extrapolieren. Die Gleichung wurde in den 1960er Jahren von aufgestellt und wird mit einigen erfolgten Anpassungen bis heute verwendet. (de)
  • Black's Equation is a mathematical model for the mean time to failure (MTTF) of a semiconductor circuit due to electromigration: a phenomenon of molecular rearrangement (movement) in the solid phase caused by an electromagnetic field. The equation is: is a constant is the current density is a model parameter is the activation energy is Boltzmann's constant is the absolute temperature in K The model is abstract, not based on a specific physical model, but flexibly describes the failure rate dependence on the temperature, the electrical stress, and the specific technology and materials. More adequately described as descriptive than prescriptive, the values for A, n, and Q are found by fitting the model to experimental data. The model's value is that it maps experimental data taken at elevated temperature and electrical stress levels in short periods of time to expected component failure rates under actual operating conditions. Experimental data is obtained by running a combination of high temperature operating life (HTOL), electrical, and any other relevant operating environment variables. (en)
  • La ecuación de Black es un modelo matemático que estima el tiempo medio de operación entre fallos de un circuito semiconductor debido a la electromigración, un fenómeno de agitación molecular del estado sólido en presencia de un campo electromagnético. (es)
  • L'Équation de Black est un modèle mathématique estimant le temps moyen jusqu'à la défaillance (MTTF : mean time to failure en anglais) d'un circuit microélectronique provoquée par le phénomène d'électromigration.L'équation tient son nom de l’américain J. R. Black.Dans un papier de 1967, Black expose les résultats de ses observations sur la défaillance des pistes des circuits microélectroniques. Ces résultats prennent la forme d'une équation empirique qui permet d'estimer la MTTF d'une piste : est une constante est la densité de courant est un paramètre du modèle est l'énergie d'activation en eV (électron-volt) est la constante de Boltzmann est la température absolue en K (fr)
  • 블랙의 방정식(Black's equation)은 전기전진에 의해 반도체가 평균적으로 고장에 이르게 하는 시간(the mean time to failure,MTTF)을 구하는 수학적인 방법이다. 방정식은 다음과 같이 표현된다. 평균고장시간 MTTF는 는 상수는 전류밀도 은 방정식의 매개변수는 활성화 에너지 (전자볼트 단위)는 볼츠만 상수는 절대온도 (켈빈 단위) 이 방정식 모델은 특정한 물리학적인 모델을 바탕으로 하지 않은 실험적으로 추론한 값이다. 하지만 이 방정식은 절대온도, 전기스트레스, 특정한 기술과 물질에 대해 평균고장시간(MTTF)를 잘 예측한다. 방정식의 A,n,Q값은 실험값을 통해 결정할 수 있다. (ko)
prov:wasDerivedFrom
page length (characters) of wiki page
foaf:isPrimaryTopicOf
is Link from a Wikipage to another Wikipage of
is Wikipage redirect of
is foaf:primaryTopic of
Faceted Search & Find service v1.17_git139 as of Feb 29 2024


Alternative Linked Data Documents: ODE     Content Formats:   [cxml] [csv]     RDF   [text] [turtle] [ld+json] [rdf+json] [rdf+xml]     ODATA   [atom+xml] [odata+json]     Microdata   [microdata+json] [html]    About   
This material is Open Knowledge   W3C Semantic Web Technology [RDF Data] Valid XHTML + RDFa
OpenLink Virtuoso version 08.03.3330 as of Mar 19 2024, on Linux (x86_64-generic-linux-glibc212), Single-Server Edition (378 GB total memory, 52 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software