Counter-scanning (CS) is a scanning method that allows correcting raster distortions caused by drift of the probe of scanning microscope relative to the measured surface. During counter-scanning two surface scans, viz., direct scan and counter scan are obtained (see Fig. 1). The counter scan starts in the point where the direct scan ends. This point is called the coincidence point (CP). With the counter scan, the probe movement along the raster line and the probe movement from one raster line to the other raster line are carried out along the directions that are opposite to the movements in the direct scan. The obtained pair of images is called counter-scanned images (CSIs).
Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
rdfs:label
| - Counter-scanning (en)
- Встречное сканирование (ru)
|
rdfs:comment
| - Counter-scanning (CS) is a scanning method that allows correcting raster distortions caused by drift of the probe of scanning microscope relative to the measured surface. During counter-scanning two surface scans, viz., direct scan and counter scan are obtained (see Fig. 1). The counter scan starts in the point where the direct scan ends. This point is called the coincidence point (CP). With the counter scan, the probe movement along the raster line and the probe movement from one raster line to the other raster line are carried out along the directions that are opposite to the movements in the direct scan. The obtained pair of images is called counter-scanned images (CSIs). (en)
- Встречное сканирование (ВС, англ. CS — counter-scanning) — способ сканирования, позволяющий исправлять искажения растра, вызываемые дрейфом зонда сканирующего микроскопа относительно измеряемой поверхности. В ходе ВС получают два скана поверхности – прямой и встречный (см. Рис. 1). Встречный скан начинается в точке, где заканчивается прямой скан. Данная точка называется точкой совмещения (ТС). Перемещение зонда по строке растра и перемещение зонда от строки к строке растра выполняются на встречном скане в направлениях противоположных направлениям перемещений на прямом скане. Полученная при проведении ВС пара изображений называется встречно-сканированными изображениями (ВСИ). (ru)
|
foaf:depiction
| |
dct:subject
| |
Wikipage page ID
| |
Wikipage revision ID
| |
Link from a Wikipage to another Wikipage
| |
sameAs
| |
dbp:wikiPageUsesTemplate
| |
thumbnail
| |
has abstract
| - Counter-scanning (CS) is a scanning method that allows correcting raster distortions caused by drift of the probe of scanning microscope relative to the measured surface. During counter-scanning two surface scans, viz., direct scan and counter scan are obtained (see Fig. 1). The counter scan starts in the point where the direct scan ends. This point is called the coincidence point (CP). With the counter scan, the probe movement along the raster line and the probe movement from one raster line to the other raster line are carried out along the directions that are opposite to the movements in the direct scan. The obtained pair of images is called counter-scanned images (CSIs). (en)
- Встречное сканирование (ВС, англ. CS — counter-scanning) — способ сканирования, позволяющий исправлять искажения растра, вызываемые дрейфом зонда сканирующего микроскопа относительно измеряемой поверхности. В ходе ВС получают два скана поверхности – прямой и встречный (см. Рис. 1). Встречный скан начинается в точке, где заканчивается прямой скан. Данная точка называется точкой совмещения (ТС). Перемещение зонда по строке растра и перемещение зонда от строки к строке растра выполняются на встречном скане в направлениях противоположных направлениям перемещений на прямом скане. Полученная при проведении ВС пара изображений называется встречно-сканированными изображениями (ВСИ). При линейном характере искажений растра, т. е. при дрейфе с постоянной скоростью, для исправления дрейфа на прямом и встречном сканах достаточно измерить координаты только одной общей особенности. В случае нелинейного искажения, когда скорость дрейфа изменяется в течение времени сканирования, число общих особенностей на ВСИ, координаты которых требуется измерить, возрастает с ростом степени нелинейности. Как правило, дрейф зонда микроскопа относительно измеряемой поверхности включает две составляющие – одна связана с ползучестью (крипом) используемой пьезокерамики сканера, другая вызывается термодеформацией устройства вследствие изменения температуры. Первая составляющая – нелинейная (аппроксимируется логарифмом), вторую составляющую в большинстве практических приложений можно рассматривать как линейную. Применение способа ВС позволяет даже при наличии сильного дрейфа, приводящего к погрешностям в десятки процентов, измерить рельефа поверхности с погрешность десятые доли процента.
* (а)
* (б) Рис. 1. Встречное сканирование: (а) с холостым обратным ходом (показан пунктирной линией), (б) без холостого обратного хода. Цифрами 1…4 обозначены номера получаемых изображений. 1, 3 – прямые изображения, 2, 4 – соответствующие прямым встречные изображения. ТС – точка совмещения пары встречно-сканированных изображений. Показанный условно растр состоит из четырёх строк. (ru)
|
gold:hypernym
| |
prov:wasDerivedFrom
| |
page length (characters) of wiki page
| |
foaf:isPrimaryTopicOf
| |
is Link from a Wikipage to another Wikipage
of | |
is Wikipage redirect
of | |
is Wikipage disambiguates
of | |
is foaf:primaryTopic
of | |