This HTML5 document contains 218 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dbpedia-dehttp://de.dbpedia.org/resource/
dcthttp://purl.org/dc/terms/
dbohttp://dbpedia.org/ontology/
n15http://dbpedia.org/resource/File:
foafhttp://xmlns.com/foaf/0.1/
n20https://global.dbpedia.org/id/
dbpedia-trhttp://tr.dbpedia.org/resource/
dbpedia-ruhttp://ru.dbpedia.org/resource/
dbthttp://dbpedia.org/resource/Template:
dbpedia-ukhttp://uk.dbpedia.org/resource/
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
freebasehttp://rdf.freebase.com/ns/
n14http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
owlhttp://www.w3.org/2002/07/owl#
n17https://vimeo.com/
dbpedia-frhttp://fr.dbpedia.org/resource/
wikipedia-enhttp://en.wikipedia.org/wiki/
dbpedia-zhhttp://zh.dbpedia.org/resource/
dbphttp://dbpedia.org/property/
dbchttp://dbpedia.org/resource/Category:
provhttp://www.w3.org/ns/prov#
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
wikidatahttp://www.wikidata.org/entity/
goldhttp://purl.org/linguistics/gold/
dbrhttp://dbpedia.org/resource/
dbpedia-jahttp://ja.dbpedia.org/resource/

Statements

Subject Item
dbr:Angle-resolved_photoemission_spectroscopy
rdf:type
dbo:TopicalConcept
rdfs:label
Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением Фотоелектронна спектроскопія з кутовим розділенням Spectroscopie photoélectronique résolue en angle 角度分解光電子分光 Angle-resolved photoemission spectroscopy 角分辨光電子能譜學
rdfs:comment
La spectroscopie photoélectronique résolue en angle (ARPES), est une technique expérimentale directe permettant l'observation de la distribution des électrons (plus précisément, la densité des excitations électroniques) dans l'espace réciproque des solides. Cette technique est une spécialisation de la spectroscopie de photoémission ordinaire. L'étude de la photoémission des électrons contenus dans un échantillon est habituellement réalisée en illuminant avec des rayons X doux. ARPES est une des méthodes les plus directes pour étudier la structure électronique des solides. 角度分解光電子分光 (Angle-resolved photoemission spectroscopy、ARPES)とは、固体の逆格子中にある電子の分布（より正確には１粒子電子励起の密度）を直接的に観測する実験方法のことである。ARPESは通常の光電子分光を改良したもので、通常はサンプルに軟X線を照射することで得られる光電子を調べる。ARPESは固体表面の電子構造を最も直接的に調べる方法の１つである。 ARPESから、サンプル（通常は固体）の価電子の方向、速度、散乱過程についての情報が得られる。つまり電子のエネルギーと運動量の両方の情報を得られ、バンド分散とフェルミ面を詳細に調べることができる。 X線ではなく紫外光を用いた場合のARPESは、ARUPS (angle-resolved ultraviolet photoemission spectroscopy)とも呼ばれる。 Angle-resolved photoemission spectroscopy (ARPES) is an experimental technique used in condensed matter physics to probe the allowed energies and momenta of the electrons in a material, usually a crystalline solid. It is based on the photoelectric effect, in which an incoming photon of sufficient energy ejects an electron from the surface of a material. By directly measuring the kinetic energy and emission angle distributions of the emitted photoelectrons, the technique can map the electronic band structure and Fermi surfaces. ARPES is best suited for the study of one- or two-dimensional materials. It has been used by physicists to investigate high-temperature superconductors, graphene, topological materials, quantum well states, and materials exhibiting charge density waves. Фотоелектро́нна спектроскопі́я з кутови́м розді́ленням (ФЕСКР), що відоміша як ARPES (angle resolved photoemission spectroscopy), є експериментальним методом для візуалізації розподілу електронів (або, більш точно, густини одночасткових збуджень кристалів) в оберненому просторі. 角分辨光電子能譜學 （Angle resolved photoemission spectroscopy，ARPES），是一種直接觀測某固體裡電子結構的方法，通常是利用極高的能量的光子，照射某固體，並且觀察電子的散射，就可以知道某固體裡的電子結構，這種技術對固態物理有很大的幫助。由於這種技術可以顯示其準確度極高，曾經被喻為：一個可以看見電子結構的顯微鏡。(a microscope for where and how the electrons move)而到了今天，角分辨光電子能譜學仍是觀察電子結構的最佳利器。 Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением (англ. Angle-resolved photoemission spectroscopy) — метод спектроскопии, использующий пучок света высокой энергии, взаимодействующий с поверхностью исследуемого материала и спектрометром с угловым разрешением для детектирования энергии выбитых электронов. Позволяет измерять закон дисперсии электронов в материале и его зонную структуру.
foaf:depiction
n14:ARPES_-_sample_and_analyzer_reference_frames_-_normal_emission.svg n14:ARPES_-_sample_and_analyzer_reference_frames_-_polar_and_tilt_and_azimuth_change.svg n14:Sample_holder_in_ultrahigh_vacuum_chamber_for_angle-resolved_photoemission_spectroscopy.jpg n14:ARPES_-_Cu(111)_surface_state_-_21.22eV_300K.svg n14:ARPES_of_renormalized_π_band_of_graphene_and_calculated_bare_band.svg n14:ARPES_spectrum_self_energy_analysis.svg n14:ARPES_energy-analyzer_angle_map_around_normal_emission_angle.svg n14:Electron_trajectories_in_ARPES_spectrometer_lens_(Phoibos_100).svg n14:ARPES_energy_-_analyzer_angle_maps_at_several_polar_angles_away_from_normal_emission.svg n14:ARPES_constant_energy_map_near_Fermi_level_given_in_analyzer_angle_-_polar_angle_units.svg n14:ARPES_constant_energy_map_near_Fermi_level_given_in_momentum_units.svg n14:Electron_spectrometer_for_ARPES,_working_principle.svg n14:ARPES_-_sample_and_analyzer_reference_frames_-_polar_and_tilt_change.svg n14:ARPES_-_sample_and_analyzer_reference_frames_-_polar_angle_change.svg n14:ARPES_setup_-_ultraviolet_source_-_sample_holder_-_electron_analyzer.svg
dct:subject
dbc:Electron_spectroscopy dbc:Emission_spectroscopy dbc:Laboratory_techniques_in_condensed_matter_physics
dbo:wikiPageID
7078310
dbo:wikiPageRevisionID
1112684684
dbo:wikiPageWikiLink
dbr:Magnetic_vector_potential dbr:Electrostatic_lens dbc:Electron_spectroscopy dbr:Binding_energy dbr:Hamiltonian_(quantum_mechanics) dbr:Fermi_surface dbr:Electronic_state dbr:Electric_discharge_in_gases dbr:Dilution_refrigerator dbr:Microchannel_plate_detector dbr:Quasiparticle dbr:Graphene dbr:Delta_distribution dbr:Photon dbr:Calibration dbr:Photons dbr:Inelastic_mean_free_path dbr:Fermi–Dirac_statistics dbr:Electric_field dbr:Bloch's_theorem dbr:Renormalization dbr:Electron_spectrometer dbr:Kramers–Kronig_relations dbr:Planck's_constant dbr:Insulator_(electricity) dbr:Quantum_well dbr:Optical_path dbr:Adsorbate n15:Electron_spectrometer_for_ARPES,_working_principle.svg n15:Electron_trajectories_in_ARPES_spectrometer_lens_(Phoibos_100).svg dbr:Kramers-Kronig_relation dbr:Spin_(physics) dbc:Emission_spectroscopy dbr:Two-dimensional_materials dbr:Perturbation_theory_(quantum_mechanics) dbr:Energy_band dbr:Crystal_momentum dbr:Ultra-high_vacuum dbr:Eigenstate dbr:Minimal_coupling dbr:Plane_wave dbr:Reduced_Planck_constant dbr:Nanowire dbr:Angle dbr:Phonon dbc:Laboratory_techniques_in_condensed_matter_physics dbr:Condensed_matter_physics dbr:Semiconductor dbr:Laser-based_angle-resolved_photoemission_spectroscopy dbr:Crystalline_solid dbr:Convolution dbr:Group_velocity dbr:Delta_function dbr:Quantum_mechanics dbr:Thin_film dbr:Two-photon_photoelectron_spectroscopy dbr:Insertion_device dbr:Monochromator dbr:Charge_density_wave dbr:Coulomb_Gauge dbr:Metal dbr:Lorentzian_distribution dbr:Work_function dbr:High-temperature_superconductors dbr:Order_of_magnitude n15:ARPES_of_renormalized_π_band_of_graphene_and_calculated_bare_band.svg dbr:Topological_insulator n15:ARPES_setup_-_ultraviolet_source_-_sample_holder_-_electron_analyzer.svg n15:ARPES_spectrum_self_energy_analysis.svg dbr:Parabola dbr:Harmonic_generation dbr:Time_of_flight dbr:Dimensionality n15:ARPES_-_Cu(111)_surface_state_-_21.22eV_300K.svg dbr:Many-body_system dbr:Algorithm dbr:Photoelectric_effect dbr:Spin_polarization dbr:Photoemission_spectroscopy dbr:Cryocooler dbr:Wave_function dbr:Eigenvalue dbr:Axial_tilt dbr:Kinetic_energy dbr:Hemispherical_electron_energy_analyzer dbr:Scattering dbr:Focus_(optics) dbr:Ion_source dbr:Ground_state dbr:Phase-space_formulation dbr:Canonical_commutation_relation dbr:Boson dbr:Transition_metal_dichalcogenide_monolayers dbr:Cryogenics dbr:Fluorescence dbr:Reciprocal_lattice dbr:Electricity dbr:Kelvin dbr:Momentum dbr:Effective_mass_(solid-state_physics) dbr:Synchrotron dbr:Joule_heating dbr:Spherical_coordinate_system dbr:Debye_model dbr:Sensor dbr:Brillouin_zone dbr:Sigmoid_function n15:Sample_holder_in_ultrahigh_vacuum_chamber_for_angle-resolved_photoemission_spectroscopy.jpg dbr:Rotation_matrix dbr:Electromagnetic_spectrum dbr:Fermi_level dbr:Momentum_space dbr:Lifetime_(physics) dbr:Electrons dbr:High-temperature_superconductivity dbr:Weyl_gauge dbr:Magnetic_field dbr:Electronic_band_structure dbr:Fermi's_golden_rule dbr:Fermi_energy dbr:Sudden_approximation dbr:Millielectronvolt dbr:Thermocouple dbr:Azimuth dbr:Angular_resolution dbr:Self-energy dbr:Light_polarisation dbr:Voltage dbr:Surface_normal dbr:Nanomaterials dbr:Ansatz dbr:Energy dbr:Picosecond dbr:Laser
dbo:wikiPageExternalLink
n17:330768693
owl:sameAs
dbpedia-tr:Açı_çözümlemeli_fotoemisyon_spektroskopisi dbpedia-ru:Фотоэлектронная_спектроскопия_с_угловым_разрешением dbpedia-zh:角分辨光電子能譜學 wikidata:Q1000635 dbpedia-fr:Spectroscopie_photoélectronique_résolue_en_angle n20:69pQ freebase:m.0h33ym dbpedia-ja:角度分解光電子分光 dbpedia-uk:Фотоелектронна_спектроскопія_з_кутовим_розділенням
dbp:wikiPageUsesTemplate
dbt:Clear dbt:Short_description dbt:X-ray_science dbt:Multiple_image dbt:Reflist dbt:Use_American_English dbt:Use_mdy_dates
dbo:thumbnail
n14:ARPES_-_Cu(111)_surface_state_-_21.22eV_300K.svg?width=300
dbo:wikiPageInterLanguageLink
dbpedia-de:Photoelektronenspektroskopie
dbp:align
right
dbp:alt
θ, τ and φ θ and τ θ, τ, and φ
dbp:caption
θ θ and τ θ, τ, and φ
dbp:captionAlign
center
dbp:footer
Geometry of an ARPES experiment. In this position, θ=0° & τ=0°, the analyzer is accepting electrons emitted vertically from the surface and α≤8° around. Left: Analyzer angle - Energy map I0 around vertical emission. Right: Analyzer angle - Energy maps Iθ at several polar angles away from vertical emission. Left: Constant energy map near EF in analyzer angle - polar angle units . Right: Constant energy map near EF in crystal momentum units . Rotations of the reference frame of the sample. the analyzer measures a range of angles α in its own reference frame.
dbp:image
ARPES energy-analyzer angle map around normal emission angle.svg ARPES constant energy map near Fermi level given in analyzer angle - polar angle units.svg ARPES - sample and analyzer reference frames - polar angle change.svg ARPES - sample and analyzer reference frames - normal emission.svg ARPES constant energy map near Fermi level given in momentum units.svg ARPES - sample and analyzer reference frames - polar and tilt and azimuth change.svg ARPES - sample and analyzer reference frames - polar and tilt change.svg ARPES energy - analyzer angle maps at several polar angles away from normal emission.svg
dbp:totalWidth
300 360
dbo:abstract
Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением (англ. Angle-resolved photoemission spectroscopy) — метод спектроскопии, использующий пучок света высокой энергии, взаимодействующий с поверхностью исследуемого материала и спектрометром с угловым разрешением для детектирования энергии выбитых электронов. Позволяет измерять закон дисперсии электронов в материале и его зонную структуру. Angle-resolved photoemission spectroscopy (ARPES) is an experimental technique used in condensed matter physics to probe the allowed energies and momenta of the electrons in a material, usually a crystalline solid. It is based on the photoelectric effect, in which an incoming photon of sufficient energy ejects an electron from the surface of a material. By directly measuring the kinetic energy and emission angle distributions of the emitted photoelectrons, the technique can map the electronic band structure and Fermi surfaces. ARPES is best suited for the study of one- or two-dimensional materials. It has been used by physicists to investigate high-temperature superconductors, graphene, topological materials, quantum well states, and materials exhibiting charge density waves. ARPES systems consist of a monochromatic light source to deliver a narrow beam of photons, a sample holder connected to a manipulator used to position the sample of a material, and an electron spectrometer. The equipment is contained within an ultra-high vacuum (UHV) environment, which protects the sample and prevents scattering of the emitted electrons. After being dispersed along two perpendicular directions with respect to kinetic energy and emission angle, the electrons are directed to a detector and counted to provide ARPES spectra—slices of the band structure along one momentum direction. Some ARPES instruments can extract a portion of the electrons alongside the detector to measure the polarization of their spin. 角分辨光電子能譜學 （Angle resolved photoemission spectroscopy，ARPES），是一種直接觀測某固體裡電子結構的方法，通常是利用極高的能量的光子，照射某固體，並且觀察電子的散射，就可以知道某固體裡的電子結構，這種技術對固態物理有很大的幫助。由於這種技術可以顯示其準確度極高，曾經被喻為：一個可以看見電子結構的顯微鏡。(a microscope for where and how the electrons move)而到了今天，角分辨光電子能譜學仍是觀察電子結構的最佳利器。 Фотоелектро́нна спектроскопі́я з кутови́м розді́ленням (ФЕСКР), що відоміша як ARPES (angle resolved photoemission spectroscopy), є експериментальним методом для візуалізації розподілу електронів (або, більш точно, густини одночасткових збуджень кристалів) в оберненому просторі. Метод оснований на явищі фотоефекту — поверхня твердого тіла опромінюється світлом з достатньою частотою для того щоб вибити з нього електрони. Вимірюється енергія вибитих електронів залежно від напрямку. Аналіз потоку вибитих електронів дозволяє відтворити густину електронних станів у валентній зоні кристалу, а також залежність енергії квазі-імпульсу — дисперсію валентної зони. La spectroscopie photoélectronique résolue en angle (ARPES), est une technique expérimentale directe permettant l'observation de la distribution des électrons (plus précisément, la densité des excitations électroniques) dans l'espace réciproque des solides. Cette technique est une spécialisation de la spectroscopie de photoémission ordinaire. L'étude de la photoémission des électrons contenus dans un échantillon est habituellement réalisée en illuminant avec des rayons X doux. ARPES est une des méthodes les plus directes pour étudier la structure électronique des solides. ARPES donne des informations sur la direction, la vitesse et la dispersion des électrons de valence dans le solide étudié. Cela signifie que l'on peut déterminer l'énergie et la quantité de mouvement d'un électron ce qui permet d'obtenir un diagramme de bandes détaillé et la surface de Fermi. La technique est également connue comme ARUPS (angle-resolved ultraviolet photoemission spectroscopy) lors de l'utilisation de la lumière ultraviolette (par opposition aux rayons X) pour générer de photoémission. 角度分解光電子分光 (Angle-resolved photoemission spectroscopy、ARPES)とは、固体の逆格子中にある電子の分布（より正確には１粒子電子励起の密度）を直接的に観測する実験方法のことである。ARPESは通常の光電子分光を改良したもので、通常はサンプルに軟X線を照射することで得られる光電子を調べる。ARPESは固体表面の電子構造を最も直接的に調べる方法の１つである。 ARPESから、サンプル（通常は固体）の価電子の方向、速度、散乱過程についての情報が得られる。つまり電子のエネルギーと運動量の両方の情報を得られ、バンド分散とフェルミ面を詳細に調べることができる。 X線ではなく紫外光を用いた場合のARPESは、ARUPS (angle-resolved ultraviolet photoemission spectroscopy)とも呼ばれる。
gold:hypernym
dbr:Technique
prov:wasDerivedFrom
wikipedia-en:Angle-resolved_photoemission_spectroscopy?oldid=1112684684&ns=0
dbo:wikiPageLength
46437
foaf:isPrimaryTopicOf
wikipedia-en:Angle-resolved_photoemission_spectroscopy