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Ближнепольная оптическая микроскопия Microscopía óptica de barrido de campo cercano SNOM Near-field scanning optical microscope 走査型近接場光顕微鏡 Skaningowy mikroskop pola bliskiego Microscope optique en champ proche Optisches Rasternahfeldmikroskop 近場掃描光學顯微鏡

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Le microscope optique en champ proche (MOCP, ou SNOM pour scanning near-field optical microscope ou NSOM pour near-field scanning optical microscopy) ou microscope optique à sonde locale (MOSL) est un type de microscope à sonde locale qui permet d'imager des objets à partir de la détection des ondes évanescentes confinées au voisinage de leur surface (détection en champ proche optique). 近场扫描光学显微镜 (NSOM/SNOM)是一个 显微镜 技术，用于结构调查，其利用渐逝波的特性打破远场中繞射極限 。 在SNOM， 激发激光光透过一个直径小于雷射波长的孔徑聚焦，从而在孔徑的遠端產生消逝场。 当样品在短距離地在孔徑下扫描，光學解析度只跟孔径的直徑有關。 此時，横向分辨率可達20 纳米、垂直分辨率可達2-5 纳米。 如光学显微镜、此机制可以用於研究的不同性质，例如 折射率、化学结构和侷域压力。也可以研究在次波長解析度下的动态特性。 NSOM/SNOM是一种扫描探针显微镜. 走査型近接場光顕微鏡（そうさがたきんせつばこうけんびきょう、英語: scanning near field optical microscopy; SNOM）は、近接場光という特殊な光を利用した走査型の顕微鏡のことである。しばしば NSOM（Near field scanning optical microscopy）とも呼ばれる。 細いプローブで試料を走査するという点では走査型トンネル顕微鏡（STM）や原子間力顕微鏡（AFM）などと同様の仕組みであり、SNOM も走査型プローブ顕微鏡（SPM）の一種類といえる。 Near Field Scanning Optical Microscopy (NSOM/SNOM), česky optická skenovací mikroskopie v blízkém poli, je mikroskopická technika pro pozorovaní v oblasti nanočástic, která překonává rozlišovací limit pomocí vlastností . Základem této techniky je umístění detektoru velmi blízko k povrchu vzorku, typicky mezi 1 a 0.1-násobkem vlnové délky světla. Používá se v optické mikroskopii, pro její schopnost zvýšit kontrast nanočástic, může být snadno použita studiu různých vlastností látek, jako je index lomu, chemická struktura a mechanická deformace. Skaningowy mikroskop pola bliskiego, mikroskop optyczny pola bliskiego, skaningowy mikroskop optyczny bliskiego zasięgu (z ang. NSOM – Near-field Scanning Optical Microscope lub SNOM) – mikroskop, w którym sondą skanującą jest stożek świetlny. Wiązka światła widzialnego padająca na próbkę odbija się od powierzchni lub przechodzi, trafiając do detektora. Jej intensywność bada się we wszystkich możliwych punktach, co daje obraz obiektu. Rozdzielczość tak uzyskiwanego obrazu dochodzi 15 nm, jednakże odległości sonda-próbka nie mogą przekraczać 5 nm. La microscopía óptica de barrido de campo cercano ( NSOM / SNOM ) es una técnica de microscopía para la investigación de nanoestructuras que rompe el campo lejano al explotar las propiedades de las ondas evanescentes. En SNOM, la luz del láser de excitación se enfoca a través de una abertura con un diámetro más pequeño que la longitud de onda de excitación, lo que resulta en un campo evanescente (o campo cercano) en el lado más alejado de la abertura.​ Cuando la muestra se escanea a una pequeña distancia por debajo de la abertura, la resolución óptica de la luz transmitida o reflejada está limitada solo por el diámetro de la abertura. En particular, la resolución lateral de 20 nm y resolución vertical de 2–5 nm se han demostrado.​​ Ближнепольная оптическая микроскопия (БОМ) — оптическая микроскопия, обеспечивающая разрешение лучшее, чем у обычного оптического микроскопа. Повышение разрешения БОМа достигается детектированием рассеяния света от изучаемого объекта на расстояниях меньших, чем длина волны света. В случае, если зонд (детектор) микроскопа ближнего поля снабжен устройством пространственного сканирования, то такой прибор называют сканирующим оптическим микроскопом ближнего поля. Такой микроскоп позволяет получать растровые изображения поверхностей и объектов с разрешением ниже дифракционного предела. Near-field scanning optical microscopy (NSOM) or scanning near-field optical microscopy (SNOM) is a microscopy technique for nanostructure investigation that breaks the far field resolution limit by exploiting the properties of evanescent waves. In SNOM, the excitation laser light is focused through an aperture with a diameter smaller than the excitation wavelength, resulting in an evanescent field (or near-field) on the far side of the aperture. When the sample is scanned at a small distance below the aperture, the optical resolution of transmitted or reflected light is limited only by the diameter of the aperture. In particular, lateral resolution of 6 nm and vertical resolution of 2–5 nm have been demonstrated. Ein optisches Rasternahfeldmikroskop (scanning nearfield optical microscope, SNOM, in den USA auch als NSOM bezeichnet) umgeht die Auflösungsgrenze des optischen Mikroskops, indem es nur Licht auswertet, das zwischen einer sehr kleinen (100 nm oder weniger) Nahfeldsonde und der untersuchten Probe ausgetauscht wird.Mit dem optischen Rasternahfeldmikroskop kann eine räumliche Auflösung von etwa 30 nm und weniger erreicht werden.

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2008-10-02

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La microscopía óptica de barrido de campo cercano ( NSOM / SNOM ) es una técnica de microscopía para la investigación de nanoestructuras que rompe el campo lejano al explotar las propiedades de las ondas evanescentes. En SNOM, la luz del láser de excitación se enfoca a través de una abertura con un diámetro más pequeño que la longitud de onda de excitación, lo que resulta en un campo evanescente (o campo cercano) en el lado más alejado de la abertura.​ Cuando la muestra se escanea a una pequeña distancia por debajo de la abertura, la resolución óptica de la luz transmitida o reflejada está limitada solo por el diámetro de la abertura. En particular, la resolución lateral de 20 nm y resolución vertical de 2–5 nm se han demostrado.​​ Al igual que en la microscopía óptica, el mecanismo de contraste se puede adaptar fácilmente para estudiar diferentes propiedades, como el índice de refracción , la estructura química y el estrés local. Las propiedades dinámicas también pueden estudiarse en una escala de sub-longitud de onda utilizando esta técnica. NSOM/SNOM es una forma de microscopía de sonda de barrido. Ein optisches Rasternahfeldmikroskop (scanning nearfield optical microscope, SNOM, in den USA auch als NSOM bezeichnet) umgeht die Auflösungsgrenze des optischen Mikroskops, indem es nur Licht auswertet, das zwischen einer sehr kleinen (100 nm oder weniger) Nahfeldsonde und der untersuchten Probe ausgetauscht wird.Mit dem optischen Rasternahfeldmikroskop kann eine räumliche Auflösung von etwa 30 nm und weniger erreicht werden. Skaningowy mikroskop pola bliskiego, mikroskop optyczny pola bliskiego, skaningowy mikroskop optyczny bliskiego zasięgu (z ang. NSOM – Near-field Scanning Optical Microscope lub SNOM) – mikroskop, w którym sondą skanującą jest stożek świetlny. Wiązka światła widzialnego padająca na próbkę odbija się od powierzchni lub przechodzi, trafiając do detektora. Jej intensywność bada się we wszystkich możliwych punktach, co daje obraz obiektu. Rozdzielczość tak uzyskiwanego obrazu dochodzi 15 nm, jednakże odległości sonda-próbka nie mogą przekraczać 5 nm. Near Field Scanning Optical Microscopy (NSOM/SNOM), česky optická skenovací mikroskopie v blízkém poli, je mikroskopická technika pro pozorovaní v oblasti nanočástic, která překonává rozlišovací limit pomocí vlastností . Základem této techniky je umístění detektoru velmi blízko k povrchu vzorku, typicky mezi 1 a 0.1-násobkem vlnové délky světla. Používá se v optické mikroskopii, pro její schopnost zvýšit kontrast nanočástic, může být snadno použita studiu různých vlastností látek, jako je index lomu, chemická struktura a mechanická deformace. 近场扫描光学显微镜 (NSOM/SNOM)是一个 显微镜 技术，用于结构调查，其利用渐逝波的特性打破远场中繞射極限 。 在SNOM， 激发激光光透过一个直径小于雷射波长的孔徑聚焦，从而在孔徑的遠端產生消逝场。 当样品在短距離地在孔徑下扫描，光學解析度只跟孔径的直徑有關。 此時，横向分辨率可達20 纳米、垂直分辨率可達2-5 纳米。 如光学显微镜、此机制可以用於研究的不同性质，例如 折射率、化学结构和侷域压力。也可以研究在次波長解析度下的动态特性。 NSOM/SNOM是一种扫描探针显微镜. Near-field scanning optical microscopy (NSOM) or scanning near-field optical microscopy (SNOM) is a microscopy technique for nanostructure investigation that breaks the far field resolution limit by exploiting the properties of evanescent waves. In SNOM, the excitation laser light is focused through an aperture with a diameter smaller than the excitation wavelength, resulting in an evanescent field (or near-field) on the far side of the aperture. When the sample is scanned at a small distance below the aperture, the optical resolution of transmitted or reflected light is limited only by the diameter of the aperture. In particular, lateral resolution of 6 nm and vertical resolution of 2–5 nm have been demonstrated. As in optical microscopy, the contrast mechanism can be easily adapted to study different properties, such as refractive index, chemical structure and local stress. Dynamic properties can also be studied at a sub-wavelength scale using this technique. NSOM/SNOM is a form of scanning probe microscopy. 走査型近接場光顕微鏡（そうさがたきんせつばこうけんびきょう、英語: scanning near field optical microscopy; SNOM）は、近接場光という特殊な光を利用した走査型の顕微鏡のことである。しばしば NSOM（Near field scanning optical microscopy）とも呼ばれる。 細いプローブで試料を走査するという点では走査型トンネル顕微鏡（STM）や原子間力顕微鏡（AFM）などと同様の仕組みであり、SNOM も走査型プローブ顕微鏡（SPM）の一種類といえる。 Le microscope optique en champ proche (MOCP, ou SNOM pour scanning near-field optical microscope ou NSOM pour near-field scanning optical microscopy) ou microscope optique à sonde locale (MOSL) est un type de microscope à sonde locale qui permet d'imager des objets à partir de la détection des ondes évanescentes confinées au voisinage de leur surface (détection en champ proche optique). Ближнепольная оптическая микроскопия (БОМ) — оптическая микроскопия, обеспечивающая разрешение лучшее, чем у обычного оптического микроскопа. Повышение разрешения БОМа достигается детектированием рассеяния света от изучаемого объекта на расстояниях меньших, чем длина волны света. В случае, если зонд (детектор) микроскопа ближнего поля снабжен устройством пространственного сканирования, то такой прибор называют сканирующим оптическим микроскопом ближнего поля. Такой микроскоп позволяет получать растровые изображения поверхностей и объектов с разрешением ниже дифракционного предела.

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